PTvis - Principio di funzionamento.
La tecnica della termografia impulsata è utilizzata per analizzare interfacce, spessori e difetti materiali in componenti e rivestimenti. La termografia impulsata è basata sul principio dell'alterazione dell'equilibrio termico del materiale con un impulso d'energia per un periodo molto breve (tipicamente alcuni millesimi di secondo). Il periodo di raffreddamento fornisce informazioni sulla conducibilità termica. L'aumento della temperatura indotta deve essere sufficientemente elevato per seguire il raffreddamento in modo ottimale.
Il componente è stimolato con potenti lampade flash allo Xenon.
Affidabilità con immagini in fase.
Il comportamento del calore durante il raffreddamento è analizzato l'analisi di fase pulsata mediante trasformata di Fourier. Questo è il motivo per cui è evitata l'influenza di disturbi esterni o non omogeneità termiche e può essere significativamente aumentato il rapporto segnale disturbo. Mediante l'analisi a differenti frequenze, si riesce a caratterizzare in profondità il materiale.
Sistema termografico
• Sensore: InSb con 320 x 256 pixel / 640 x 512 pixel. In alternativa sensore MCT
• Risposta spettrale: da 3 µm a 5 µm. In alternativa da 8 µm a 12 µm
• Obiettivo: 25 mm, f/2 (Obiettivi opzionali a richiesta).
• Frequenza immagine: fino a 380 Hz (>1kHz con parzializzazione immagine).
• NETD: <16mK a 25°C
• Tempo d'integrazione: regolabile da 1 µs a 10 ms.
• Sincronizzazione: Interna od esterna con l'immagine FPA.
Sistema di stimolazione
• Tipo: lampade singole o flash ad anello
• Potenza: fino a fino 24kJ
• Impulso: 1 ms (tipico)
Software
Acquisizione ed elaborazione in tempo reale. Controllo via software della sorgente d'eccitazione e sincronizzazione con l'immagine Infrarosso.
Analisi
Algoritmi di valutazione: sottrazione immagine, Trasformata di Fourier, calcolo della conducibilità termica. Soppressione del rumore e disturbi con analisi in fase.
